Большая глубина проникновения при электрофизиологических исследованиях.
Eclipse FN1 — прямой микроскоп особого назначения, специально разработанный в соответствии со строгими требованиями, предъявляемыми к оборудованию для электрофизиологических исследований.
Высокая четкость и контрастность благодаря оптической системе с иммерсионным объективом Plan 100xW (NA 1,1, WD 2,5 мм) с коррекцией аберраций, вызванных погружением в жидкость;новая оптика c более длинными рабочими расстояниями, более тонкими контурами, лучшими углами подвода и безаберрационным изображением в световом диапазоне от видимого до инфракрасного;открытая конструкция позволяет менять высоту микроскопа и убирать из рабочей зоны его детали (кондесор, препаратоводитель и др.) для максимально возможной индивидуальной настройки;оснащен множеством средств для подавления шумов (механизмом вкл./выкл. турели фильтров, механизмомами смены светового потока, смены увеличения и др.);расположение на передней части штатива рукоятки фокусировки, полевой диафрагмы для удобного управления;пульт дистанционного управления для удаленного включения/выключения осветителя и регулировки интенсивности излучения;конструкция микроскопа позволяет проводить быструю и безопасную смену объективов.
Технические характеристики Eclipse FN1:
оптическая система — CFI60 и CFI75, настроенные на бесконечность;осветитель — ламповый блок с галогеновым осветителем, 100 Вт; оптоволоконный галогеновый осветитель 100 Вт;тип тубуса — тринокулярный / бинокулярный;увеличение окуляров — 10x/22,10х/25;револьвер объективов — направляющая «салазки» для объективов CFI60; переднее/заднее положение, двухпозиционная; одинарная оправа объектива для объектива CFI75; 1-позиционная;столик — прямоугольный механический столик на 3 образца; диапазон перемещений: 30 мм (X, Y);LWD-конденсор — универсальный, на каретке; числовая апертура — 0,78, рабочее расстояние — 7,2 мм; с возможностью наблюдения по методу ДИК и косого освещения.Все микроскопы данного уровня комплектуются под задачи клиента; обращайтесь к специалистам Диаэм.
