Микроскопы зондовые сканирующие

продукт(ов)

Микроскоп зондовый сканирующий SPM-9700, Shimadzu

Артикул: SPM-9700
Сканирующая зондовая микроскопия позволяет получать цифровое трёхмерное изображение поверхности (атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры...

Сканирующая зондовая микроскопия позволяет получать цифровое трёхмерное изображение поверхности (атомарной решётки, живой клетки, интегральной микросхемы, структуры полимера и т.д.) и её локальных характеристик с высоким разрешением. Процесс построения изображения основан на сканировании поверхности зондом.

Технические характеристики:

Разрешение - 0,2 нм по осям X, Y, 0,01 нм по оси Z; перемещение детектирующей системы - источник света / оптический рычаг / детектор; непрерывное освещение кантилевера лазерным диодом, даже при смене образца; фотодетектор; сканер с трубчатым пьезоэлектрическим приводом, диапазоны сканирования:

- 30 мкм x 30 мкм x 5 мкм (стандартная комплектация);- 125 мкм x 125 мкм x 7 мкм (опция);- 55 мкм x 55 мкм x 13 мкм (опция);- 2,5 мкм x 2,5 мкм x 0,3 мкм (опция).

магнитный зажим для фиксации образца; механизм скольжения головки со встроенной системой перемещения детектора и кантилевером. Смена образца без удаления кантилевера; максимальные размеры образца - 24 мм*8мм; полностью автоматический, независимый от толщины образца механизм настройки;по оси Z c шаговым двигателем, максимальный ход - 10 мм; антивибрационная система, встроенная в блок SPM; возможность заменять образцы без удаления держателя кантилевера; доступность образца во время измерения; высота образца настраивается автоматически, независимо от его толщины.

Стандартные режимы работы:

• Контактный режим; • режим латеральных сил; • динамический режим; • фазовый режим; • режим силовой модуляции; • силовая кривая.

Опциональные режимы работы:

• Режим проводимости; • режим поверхностного потенциала (кельвин-микроскопия); • магнитно-силовой режим (магнитно-силовая микроскопия); • силовое картирование; • режим векторного сканирования; • режим сканирования в слое жидкости; • электрохимическая атомно-силовая микроскопия.

Опции для расширения возможностей SPM-9700:

• Оптический микроскоп с цифровой камерой; • волоконно-оптический осветитель; • блоки широко/узко-форматного и глубинного сканирования; • климатическая камера с нагревателем образцов, контролем температуры, влажности и газового состава атмосферы; • программа анализа распределения частиц по размерам.

Принцип работы:

В СЗМ исследование микрорельефа поверхности и ее локальных свойств проводится с помощью специальным образом приготовленных зондов в виде игл. Рабочая часть таких зондов (кантилевер) имеет размеры порядка 10 нанометров. Характерное расстояние между зондом и поверхностью образца в зондовых микроскопах по порядку величины составляет 0,1-10 нм. С помощью операционной системы компьютера это расстояние пропорционально связано с электромагнитным параметром взаимодействия между зондом и поверхностью образца и поддерживается постоянным по принципу отрицательной обратной связи. Таким образом, малейшее изменение расстояния между зондом и сканируемой поверхностью отражается на изменении связанного с ним параметра, который поддерживается оператором на заданном уровне, благодаря чему зонд отклоняется на пропорциональное заданному параметру расстояние.Функция перемещения зонда записывается в память компьютера и формирует изображение посредством компьютерной графики. В современных зондовых микроскопах точность удержания расстояния зонд - поверхность достигает величины ~ 0,01 А.

Возможности сканирующей зондовой микроскопии:

• Получение трехмерного изображения рельефа поверхности образцов металлов, полупроводников, керамики, макромолекул и биологических объектов с увеличением в несколько тысяч или миллионов раз, что используется в материаловедении, полупроводниковой промышленности, биологии, медицине, при физических и химических исследованиях.

• Измерение значения следующих физических свойств поверхности с пространственным разрешением в доли нанометра:

- механических (силу трения, адгезию, жесткость, эластичность); - электрических (потенциал, проводимость); - магнитных (распределение намагниченности).Разнообразие методов визуализации 3D изображения с помощью SPM-9700

Используйте мышь для изменения масштаба и свободного вращения изображений или изменения увеличения по оси Z. Это позволяет визуализировать полученные данные различными способами, подтверждая эти данные в режиме реального времени.

Функция текстуры

Информация о высоте может быть наложена на информацию о физических свойствах. Это позволяет ясно показать соотношения между двумя параметрами.Анализ профилей поперечного сечения

В 3D изображениях можно анализировать профили сечения. Если информация о физических свойствах выражена в терминах текстуры, соответствующие профили сечения могут быть показаны и проанализированы в том же месте.

0 €